高溫試驗
試驗目的:確定探測器高溫貯存和使用的適應性。
試驗方法: 將經過預處理的試驗樣品放入溫度為室溫的試驗箱內,然后將試驗箱內的溫度以規定的速率調到規定值。
待試驗樣品溫度穩定后,在該條件下暴露規定的持續時間。
溫度穩定時間由產品標準在0.5 h~16 h的范圍內選取。 試驗過程中試驗樣品可處于工作狀態(高溫使用)或不處于工作狀態(例如高溫貯存)。
試驗背景
核輻射探測器使用一段時間后,其性能保持不變的能力稱為穩定性。影響核輻射探測器長期穩定性的因素除其本身結構外,主要是使用環境。因此,要使傳感器具有良好的穩定性,必須要有較強的環境適應能力。
健明迪檢測可靠性實驗中心具備各種核輻射探測器的環境試驗能力,為探測器產品提供專業的高溫試驗、低溫試驗、恒定濕熱試驗、溫度變化試驗等環境試驗服務。
溫度變化試驗
試驗目的:確定探測器對周圍溫度快速變化的耐受能力、適應性和工作能力。
試驗方法:
a)規定溫度變化速率的試驗:將處于工作狀態或非工作狀態的試驗樣品放入試驗箱,并以一定速率在低溫與高溫之間改變試驗箱內的溫度,使試驗樣品經受溫度的變化,同時進行性能特性檢測。
b)規定轉移時間的試驗:將試驗樣品交替暴露于低溫和高溫的空氣(或合適的保護氣體)中,使其經受溫度快速變化的影響。
核輻射探測器高低溫試驗機構
健明迪檢測可靠性實驗中心具備各種核輻射探測器的環境試驗能力,為探測器產品提供專業的高溫試驗、低溫試驗、恒定濕熱試驗、溫度變化試驗等環境試驗服務。
試驗標準
GB/T 10263-2006 核輻射探測器環境條件與試驗方法
GB/T 2423.1-2008 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗A:低溫
GB/T 2423.2-2008 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗B:高溫
GB/T 2424.15-2008 電工電子產品環境試驗 溫度/低氣壓綜合試驗導則
GB/T 2423.22-2012 環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗N:溫度變化
GB/T 2423.27-2020 環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗方法和導則:溫度/低氣壓或溫度/濕度/低氣壓綜合試驗
GB/T 2423.34-2012 環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Z/AD:溫度/濕度組合循環試驗
恒定濕熱試驗
試驗目的:確定探測器在高相對濕度條件下貯存和使用的適應性。
試驗方法: 將經過預處理的試驗樣品放入正常大氣條件的試驗箱內,并將試驗箱內的溫度和相對濕度調到規定值,在該條件下暴露規定的持續時間。
對試驗加濕的要求如下:
a)不斷排出試驗箱內的冷凝水,排出的冷凝水在純化處理前不再用作產生潮濕的水;
b)箱頂和箱壁的冷凝水不要滴落在試驗樣品上。
低溫試驗
試驗目的:確定探測器低溫貯存和使用的適應性。
試驗方法: 將經過預處理的試驗樣品放入溫度為室溫的試驗箱內,然后將試驗箱內的溫度調到規定值。待試驗樣品溫度穩定后,在該條件下暴露規定的持續時間。
溫度穩定時間可從0.5 h~16 h的范圍內選取。 試驗過程中試驗樣品可處于工作狀態(低溫使用)或不處于工作狀態(例如低溫貯存)。