光學儀器砂塵試驗

1、試樣暴露期間，其光學表面應用各種措施防止砂塵的影響，如防塵罩。罩蓋方式應在相關標準中規定。若試樣在暴露時光學表面不必罩蓋，則應在有關標準中加以說明。
2、試驗箱（室）應具有一定的空間以保證試樣的占有面積不大于試驗箱（室）橫截面積（與空氣流動方向垂直的面積）的50%，體積不超過試驗箱（室）有效體積的50%。
3、礦物砂塵應由邊緣銳利的微粒組成，其中 SiO2質量分數應不小于97%。

光學和光子學儀器砂塵試驗目的是研究試樣的光學、氣候、機械、化學和電氣（包括靜電）等特性受到砂塵影響的變化程度。
健明迪檢測可靠性實驗中心具備各種光學和光子學儀器的環境試驗能力，為光學和光子學儀器產品提供專業的砂塵試驗等環境試驗服務。

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GB/T 12085.1-2022 光學和光子學 環境試驗方法 第1部分：術語、試驗范圍
ISO 9022-1：2016光學和光子學 環境試驗方法 第1部分：術語、試驗范圍
GB/T 12085.6-2022 光學和光子學 環境試驗方法 第6部分：砂塵
ISO 9022-6：2015光學和光子學 環境試驗方法 第6部分：砂塵
KS B ISO 9022-6：2015光學和光子學 環境試驗方法 第6部分：砂塵
DIN ISO 9022-6：2015光學和光子學 環境試驗方法 第6部分：砂塵
BS ISO 9022-6：2015光學和光子學 環境試驗方法 第6部分：砂塵

所有光學和光子學儀器包括來自其他領域附屬組件（如機械、化學和電子設備）