光學(xué)儀器耐壓試驗

高內(nèi)壓試驗條件方法適合于因使用和運(yùn)輸而暴露在一個最高壓力的嚴(yán)酷環(huán)境試驗。
而暴露在低溫高壓或者外高壓的環(huán)境中的儀器必須進(jìn)行低內(nèi)壓試驗（低內(nèi)壓試驗也用于污染或不斷增加的內(nèi)部濕度下）。
裸潛或在水下的儀器應(yīng)進(jìn)行浸沒試驗。

光學(xué)和光子學(xué)儀器在改變環(huán)境溫度時，其內(nèi)表面可能會出現(xiàn)水膜，這會導(dǎo)致光學(xué)性能大大降低或加劇，諸如出現(xiàn)腐蝕和發(fā)霉等影響。
光學(xué)和光子學(xué)儀器耐壓試驗?zāi)康氖茄芯吭嚇拥墓鈱W(xué)、氣候、機(jī)械、化學(xué)和電氣（包括靜電）等特性受到環(huán)境氣體高壓、低壓或浸沒影響的變化程度，檢驗其耐壓性能。
健明迪檢測可靠性實(shí)驗中心具備各種光學(xué)和光子學(xué)儀器的環(huán)境試驗?zāi)芰Γ瑸楣鈱W(xué)和光子學(xué)儀器產(chǎn)品提供專業(yè)的等環(huán)境試驗服務(wù)。

健明迪檢測可靠性實(shí)驗中心具備各種光學(xué)和光子學(xué)儀器的環(huán)境試驗?zāi)芰Γ瑸楣鈱W(xué)和光子學(xué)儀器產(chǎn)品提供專業(yè)的等環(huán)境試驗服務(wù)。

GB/T 12085.1-2022 光學(xué)和光子學(xué) 環(huán)境試驗方法 第1部分：術(shù)語、試驗范圍
ISO 9022-1：2016光學(xué)和光子學(xué) 環(huán)境試驗方法 第1部分：術(shù)語、試驗范圍
GB/T 12085.8-2022 光學(xué)和光子學(xué) 環(huán)境試驗方法 第8部分：高內(nèi)壓、低內(nèi)壓、浸沒
ISO 9022-8：2015光學(xué)和光子學(xué) 環(huán)境試驗方法 第8部分：高內(nèi)壓、低內(nèi)壓、浸沒
DIN ISO 9022-8：2015光學(xué)和光子學(xué) 環(huán)境試驗方法 第8部分：高內(nèi)壓、低內(nèi)壓、浸沒
BS ISO 9022-8：2015光學(xué)和光子學(xué) 環(huán)境試驗方法 第8部分：高內(nèi)壓、低內(nèi)壓、浸沒
KS B ISO 9022-8：2015光學(xué)和光子學(xué) 環(huán)境試驗方法 第8部分：高內(nèi)壓、低內(nèi)壓、浸沒

所有光學(xué)和光子學(xué)儀器包括來自其他領(lǐng)域附屬組件（如機(jī)械、化學(xué)和電子設(shè)備）