光學儀器低溫高溫濕熱試驗

1、恒應力狀態試驗
試樣在恒應力狀態暴露期間，溫度變化應十分緩慢以防止試樣損壞。用高溫試驗或濕熱試驗時，溫度變化階段應保持最大的相對濕度，并在有關規范中說明試樣上是否可出現結露（冷凝）現象。
包括：低溫試驗、高溫試驗、濕熱試驗、凝露試驗
2、循環暴露試驗
當執行溫度漸變試驗和溫度突變試驗時，試樣溫度與試驗箱（室）溫度的溫差應在3K之內，并持續到規定的停留時間再結束。對于某些大型試樣，如果規定的停留時間無法滿足要求，可以進行預測試，以確定所需的停留時間。
包括：溫度漸變試驗、溫度突變試驗、循環濕熱試驗

光學和光子學儀器低溫高溫濕熱試驗目的是研究試樣的光學、氣候、機械、化學和電氣（包括靜電）等特性受到溫度和濕度影響的變化程度。
健明迪檢測可靠性實驗中心具備各種光學和光子學儀器的環境試驗能力，為光學和光子學儀器產品提供專業的低溫試驗、高溫試驗、濕熱試驗等環境試驗服務。

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GB/T 12085.1-2022 光學和光子學 環境試驗方法 第1部分：術語、試驗范圍
ISO 9022-1：2016光學和光子學 環境試驗方法 第1部分：術語、試驗范圍
GB/T 12085.2-2022 光學和光子學 環境試驗方法 第2部分：低溫、高溫、濕熱
ISO 9022-2：2016光學和光子學 環境試驗方法 第1部分：低溫、高溫、濕熱
KS B ISO 9022-2：2016光學和光子學 環境試驗方法 第1部分：低溫、高溫、濕熱
DIN ISO 9022-2：2016光學和光子學 環境試驗方法 第1部分：低溫、高溫、濕熱
BS ISO 9022-2：2016光學和光子學 環境試驗方法 第1部分：低溫、高溫、濕熱

所有光學和光子學儀器包括來自其他領域附屬組件（如機械、化學和電子設備）