半導體集成電路電壓比較器檢測

      健明迪檢測提供的半導體集成電路電壓比較器檢測,檢測項目 輸入失調電壓VIo,輸入失調電流lIO,輸入偏置電流lIB,檢測標準 半導體集成電路電壓比較器測試方法的基本原理SJ/T10805-2018,具有CMA,CNAS認證資質。
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      檢測流程

      1、寄樣

      2、初檢樣品

      3、報價

      4、雙方確定,簽訂保密協議,開始實驗。

      5、結束實驗

      6、郵寄檢測報告

      檢測標準

      半導體集成電路電壓比較器測試方法的基本原理 SJ/T 10805-2018 5.1

      半導體集成電路電壓比較器測試方法的基本原理 SJ/T 10805-20185.3

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      半導體集成電路電壓比較器測試方法的基本原理 SJ/T 10805-20185.16

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      微電子器件試驗方法和程序GJB 548C-2021 1015.1

      檢測項目

      輸入失調電壓VIo,輸入失調電流lIO,輸入偏置電流lIB,開環電壓增益AVD,正電源電流!+,負電源電流l,靜態功耗PD,共模抑制比KCMR,輸出低電平電壓VOL,高電平輸出電流IOH,低電平輸出電流IOL,鍵合強度,剪切強度,耐溶劑性,可焊性,鍵合強度(破壞性鍵合拉力試驗),老煉試驗,穩態壽命,引線車固性,溫度循環,耐濕,密封,機械沖擊,掃頻振動,恒定加速度,鹽霧(鹽汽),靜電放電敏感度的分級,粒子碰撞噪聲檢測試驗,高溫貯存

      檢測周期:7-15個工作日,試驗可加急

      檢測樣品:半導體集成電路電壓比較器

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