光學(xué)儀器彈跳或恒加速度與高低溫綜合試驗(yàn)

1、彈跳與高溫綜合試驗(yàn)
2、彈跳與低溫綜合試驗(yàn)
3、恒加速度與高溫綜合試驗(yàn)
4、恒加速度與低溫綜合試驗(yàn)
確保上述條件的方法有：將試樣裝置的夾具加熱到高于樣品溫度并且使用恒溫器或隔熱罩。這將確定可用于安裝和溫度調(diào)節(jié)的時(shí)間，該時(shí)間內(nèi)試樣發(fā)生的溫度變化保持在允許范圍內(nèi)。測(cè)試室外絕熱試樣的溫度隨時(shí)間變化的模式可以在相關(guān)規(guī)范里規(guī)定。

光學(xué)和光子學(xué)儀器彈跳或恒加速度與高低溫綜合試驗(yàn)?zāi)康氖茄芯吭嚇拥墓鈱W(xué)、熱學(xué)、化學(xué)和電氣等性能受到彈跳或恒加速度與高溫、低溫影響時(shí)的變化程度。
健明迪檢測(cè)可靠性實(shí)驗(yàn)中心具備各種光學(xué)和光子學(xué)儀器的環(huán)境試驗(yàn)?zāi)芰Γ瑸楣鈱W(xué)和光子學(xué)儀器產(chǎn)品提供專業(yè)的彈跳或恒加速度與高低溫綜合試驗(yàn)等環(huán)境試驗(yàn)服務(wù)。

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GB/T 12085.1-2022 光學(xué)和光子學(xué) 環(huán)境試驗(yàn)方法 第1部分：術(shù)語、試驗(yàn)范圍
ISO 9022-16光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法 第16部分：彈跳或恒加速度與高溫、低溫綜合試驗(yàn)
GB/T 12085.16-2010 光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法 第16部分：彈跳或恒加速度與高溫、低溫綜合試驗(yàn)
GB/T 12085.2-2022 光學(xué)和光子學(xué) 環(huán)境試驗(yàn)方法 第2部分：低溫、高溫、濕熱
GB/T 12085.3-2022 光學(xué)和光子學(xué) 環(huán)境試驗(yàn)方法 第3部分：機(jī)械作用力
BS ISO 9022-16光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法 第16部分：彈跳或恒加速度與高溫、低溫綜合試驗(yàn)
DIN ISO 9022-16光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法 第16部分：彈跳或恒加速度與高溫、低溫綜合試驗(yàn)
KS B ISO 9022-16光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法 第16部分：彈跳或恒加速度與高溫、低溫綜合試驗(yàn)

所有光學(xué)和光子學(xué)儀器包括來自其他領(lǐng)域附屬組件（如機(jī)械、化學(xué)和電子設(shè)備）