試驗項目
1、低氣壓單項試驗
2、低氣壓-溫度綜合試驗
3、低氣壓-溫度-濕度綜合試驗
試驗背景
電子電工產(chǎn)品之所以要進行低氣壓測試,是因為由于大氣壓的降低,電工電子產(chǎn)品的機械性能和電氣性能都會受到很大影響,有時會導(dǎo)致產(chǎn)品的破壞。例如電工電子產(chǎn)品散熱情況于正常大氣條件不同。由此可知,低氣壓條件下,輻射散熱所占比例增大,對流散熱所占比例降低,此外由于大氣密度的降低,散熱產(chǎn)品周圍介質(zhì)條件也將發(fā)生變化。
低氣壓對電工電子產(chǎn)品的影響在正常大氣條件下是無法模擬的,因此必須進行低氣壓試驗。 電子電工產(chǎn)品低氣壓試驗?zāi)康氖谴_定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在低氣壓條件下貯存、運輸或使用的適應(yīng)性。
健明迪檢測可靠性實驗中心具備各種電工電子產(chǎn)品的環(huán)境試驗?zāi)芰Γ瑸殡姽る娮赢a(chǎn)品提供專業(yè)的低氣壓試驗等服務(wù)。
電工電子產(chǎn)品低氣壓試驗機構(gòu)
健明迪檢測可靠性實驗中心具備各種電工電子產(chǎn)品的環(huán)境試驗?zāi)芰Γ瑸殡姽る娮赢a(chǎn)品提供專業(yè)的低氣壓試驗等服務(wù)。
試驗標準
GB/T 2423.21-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試程 第2部分:試驗方法 試驗M:低氣壓
IEC 60068-2-13:1983(第1版)基本環(huán)境試驗規(guī)程 第2部分:試驗 試驗M:低氣壓
GB/T 2423.25電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗
GB/T 2423.26電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Z/BM:高溫/低氣壓綜合試驗
GB/T 2421電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第1部分:總則
試驗范圍
1.計算機類:電腦、顯示屏、主機、電腦元器件、醫(yī)療設(shè)備等精密儀器等。
2.電子通信類:手機、射頻器、電子通信元器件等。
3.電器類:家電、燈具、變電器等各類家電電器設(shè)備。
4.電工類:插座、插頭等。