低氣壓試驗

      健明迪檢測提供的低氣壓試驗,檢測標準 GB/T2423.21-2008電工電子產品環境試驗第2部分:試驗方法試驗M:低氣壓 GB/T2423.24-1995電工電子產品環境試驗溫度(低溫,具有CMA,CNAS資質。
      低氣壓試驗
      檢測標準
      GB/T2423.21-2008 電工電子產品環境試驗第2部分:試驗方法試驗M:低氣壓
      GB/T2423.24-1995 電工電子產品環境試驗溫度(低溫、高溫)低氣壓振動(正弦)綜合試驗導則
      IEC68-2-41 基本環境試驗規程第二部分試驗試驗Z/BM高溫/低氣壓試驗
      HB5830.14 機載設備環境條件與試驗方法低氣壓(高度)
      JB3224-83 使用于高海拔地區電工產品低氣壓試驗方法
      GB/T4857.13包裝運輸包裝件低氣 壓試驗方法
      GB12085.5光學和光學儀器環境試驗方法綜合低溫與低氣壓
      GB/T10590 低溫低氣 壓試驗箱技術條件
      GB/T5170.10 電工電子產品環境試驗設備基本參數檢定方法高低溫低氣壓試驗設備
      GB/T 4857.13-2005 包裝 運輸包裝件基本試驗 第13部分:低氣壓試驗方法
      QJ 1238.18-1990 導彈運載火箭上電纜試驗方法 低氣壓試驗
      DZ 0039.10-1992 地質儀器產品基本環境試驗條件及方法 低氣壓試驗
      GB/T 5170.10-2017 環境試驗設備檢驗方法 第10部分:高低溫低氣壓試驗設備
      GB/T 2423.27-2020 環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗方法和導則:溫度/低氣壓或溫度/濕度/低氣壓綜合試驗
      GB/T 2424.15-2008 電工電子產品環境試驗 溫度/低氣壓綜合試驗導則
      GB/T 4937.2-2006 半導體器件 機械和氣候試驗方法 第2部分:低氣壓
      GB/T 2423.63-2019 環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗:溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(混合模式)綜合
      GB/T 2423.21-2008 電工電子產品環境試程 第2部分:試驗方法 試驗M:低氣壓
      GB/T 12085.5-2010 光學和光學儀器 環境試驗方法 第5部分:低溫、低氣壓綜合試驗
      GB/T 2423.102-2008 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗:溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(正弦)綜合
      GB/T 2423.59-2008 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Z/ABMFh:溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(隨機)綜合
      GB/T 5170.17-2005 電工電子產品環境試驗設備 基本參數檢定方法 低溫/低氣壓/濕熱綜合順序試驗設備
      試驗背景
      低氣壓試驗就是將試驗樣品放入試驗箱(室),然后將箱(室)內氣壓降低到有關標準規定的值,并保持規定持續時間的試驗。低氣壓測試廣泛應用于航空、航天、信息、電子等領域,其目的主要用來確定元件、設備或其他產品在貯存、運輸和使用中對低氣壓環境的適應性。通常高低溫環境結合低氣壓構成綜合環境應力來評價產品的失效機理等。
      健明迪檢測環境可靠性實驗中心擁有各種氣候環境模擬試驗設備,具備低氣壓試驗能力,為各類汽車以及航天產品、電子電氣零部件、通訊產品等產品提供專業的低氣壓試驗服務。
      低氣壓試驗機構
      健明迪檢測環境可靠性實驗中心擁有各種氣候環境模擬試驗設備,具備低氣壓試驗能力,為各類汽車以及航天產品、電子電氣零部件、通訊產品等產品提供專業的低氣壓試驗服務。
      應用范圍
      1、汽車以及航天產品的元器件、結構件、組件以及整機等;
      2、電子電氣零部件、通訊產品、PCB、PCBA、儀器儀表、家用電器等。
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