試驗項目
1、正常大氣條件下溫度試驗
2、額定使用范圍:額定使用范圍任選下限溫度試驗、額定使用范圍下限溫度試驗、額定使用范圍任選上限溫度試驗、額定使用范圍上限溫度試驗、額定使用范圍上限溫度運行試驗
3、貯存范圍:貯存范圍下限溫度試驗、貯存范圍上限溫度試驗
試驗背景
地質(zhì)儀器產(chǎn)品在使用、運輸及貯中時刻要遇到環(huán)境、溫度本身及溫度與其他環(huán)境綜合作用,時刻在影響著地質(zhì)儀器產(chǎn)品的性能,導(dǎo)致其各種形式的故障。地質(zhì)儀器溫度試驗?zāi)康脑谟诖_定其在規(guī)定的高溫低溫環(huán)境條件下使用、運輸及貯存的適應(yīng)性。
健明迪檢測可靠性實驗中心具備各種地質(zhì)儀器產(chǎn)品的環(huán)境試驗?zāi)芰Γ瑸榈刭|(zhì)儀器產(chǎn)品提供專業(yè)的溫度試驗服務(wù)。
地質(zhì)儀器溫度試驗機構(gòu)
健明迪檢測可靠性實驗中心具備各種地質(zhì)儀器產(chǎn)品的環(huán)境試驗?zāi)芰Γ瑸榈刭|(zhì)儀器產(chǎn)品提供專業(yè)的溫度試驗服務(wù)。
試驗標準
DZ 0039.1-1992 地質(zhì)儀器產(chǎn)品基本環(huán)境試驗條件及方法 總則
DZ 0039.2-1992 地質(zhì)儀器產(chǎn)品基本環(huán)境試驗條件及方法 溫度試驗
GB/T 2423.102-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗:溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(正弦)綜合
GB/T 2424.15-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 溫度/低氣壓綜合試驗導(dǎo)則
GB/T 2423.59-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Z/ABMFh:溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(隨機)綜合
GB/T2423.24-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗溫度(低溫、高溫)低氣壓振動(正弦)綜合試驗導(dǎo)則
IEC68-2-41基本環(huán)境試驗規(guī)程第二部分試驗試驗Z/BM高溫/低氣壓試驗
GB/T 5170.18-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度/濕度組合循環(huán)試驗設(shè)備
GB/T 2424.7-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 試驗A和B(帶負載)用溫度試驗箱的測量
試驗范圍
1、室內(nèi)用儀器
2、室外用儀器
3、車載用儀器
4、測井用儀器
5、海洋用儀器
6、航空用儀器